分離傳感端子（附帶浪湧電壓保護功能）外部調整滯後 外接延遲電容式電壓檢測器

*符合AEC-Q100 (Grade1) 標準

XD6132系列產品是超小型,高精度,分離傳感端子,外接延遲電容式的高精度電壓檢測器。由於採用了CMOS工藝,高精度基準電源,激光微調技術，實現了高精度,低消耗電流。

由於傳感端子與電源輸入端子分離，可以監控其他電源的電壓，即使監控電源的電壓降低到0V，也能保持檢測輸出的狀態。傳感端子適用於檢測高電壓,能用外接電阻任意地設定檢測,解除電壓。而且還內置了浪湧電壓保護電路。

此外由於內置了延遲電路，通過為Cd/MRB端子連接了電容，使其能具有任意地解除延遲,檢測延遲的功能，還可作為手動復位端子使用。由於使用了外調滯後端子，能使其具有足夠的滯後寬度。

*特瑞仕的車載專用產品XD系列通過了AEC-Q100標準的信賴性試驗測試。

特點

工作溫度範圍 -40℃～+125℃
檢測電壓精度(Ta=25℃) ±18mV(VDF<1.5V)
±1.2%(1.5V≦VDF≦2.0V)
檢測電壓精度(Ta=-40～125℃) ±36mV(VDF<1.5V)
±2.7%(1.5V≦VDF≦2.0V)
低消耗電流 1.28μA(TYP.)VIN=1.6V(檢測)
1.65μA(TYP.)VIN=6.0V(解除時)
手動復位輸入 有
輸出形式 CMOS或N溝道開漏
輸出邏輯 Active High or Active Low (檢測)
附帶延遲電容端子 能設定解除延遲/檢測延遲
有4個模式的時間比率
傳感端子 有浪湧電壓保護功能

典型應用電路

技術文件

封裝

封裝名稱 引腳數 個/Reel 外形尺寸（mm）
SOT-26 6 3,000 2.8 x 2.9 x 1.3
USP-6C 6 3,000 1.8 x 2.0 x 0.6

XD6132系列型號

型號 樣品 Output Configuration Detect Voltage Type Package EDA 在線商店

XD6132C10AMR-Q

 CMOS output 1.0V Active High, Release delay144kΩ：Detect Delay0kΩ SOT-26

XD6132C10BMR-Q

 CMOS output 1.0V Active High, Release Delay144kΩ：Detect Delay18kΩ SOT-26

XD6132C10CMR-Q

 CMOS output 1.0V Active High, Release Delay144kΩ：Detect Delay144kΩ SOT-26

XD6132C10DMR-Q

 CMOS output 1.0V Active High, Release Delay288kΩ：Detect Delay144kΩ SOT-26

XD6132C10EMR-Q

 CMOS output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay0kΩ SOT-26

XD6132C10FMR-Q

 CMOS output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay18kΩ SOT-26

XD6132C10HMR-Q

 CMOS output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay144kΩ SOT-26

XD6132C10KMR-Q

 CMOS output 1.0V Active Low, Release Delay288kΩ：Detect Delay144kΩ SOT-26

XD6132N10AMR-Q

 Nch open drain output 1.0V Active High, Release delay144kΩ：Detect Delay0kΩ SOT-26

XD6132N10BMR-Q

 Nch open drain output 1.0V Active High, Release Delay144kΩ：Detect Delay18kΩ SOT-26

XD6132N10CMR-Q

 Nch open drain output 1.0V Active High, Release Delay144kΩ：Detect Delay144kΩ SOT-26

XD6132N10DMR-Q

 Nch open drain output 1.0V Active High, Release Delay288kΩ：Detect Delay144kΩ SOT-26

XD6132N10EMR-Q

 Nch open drain output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay0kΩ SOT-26

XD6132N10FMR-Q

 Nch open drain output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay18kΩ SOT-26

XD6132N10HMR-Q

 Nch open drain output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay144kΩ SOT-26

XD6132N10KMR-Q

 Nch open drain output 1.0V Active Low, Release Delay288kΩ：Detect Delay144kΩ SOT-26

XD6132C10AER-Q

 CMOS output 1.0V Active High, Release delay144kΩ：Detect Delay0kΩ USP-6C

XD6132C10BER-Q

 CMOS output 1.0V Active High, Release Delay144kΩ：Detect Delay18kΩ USP-6C

XD6132C10CER-Q

 CMOS output 1.0V Active High, Release Delay144kΩ：Detect Delay144kΩ USP-6C

XD6132C10DER-Q

 CMOS output 1.0V Active High, Release Delay288kΩ：Detect Delay144kΩ USP-6C

XD6132C10EER-Q

 CMOS output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay0kΩ USP-6C

XD6132C10FER-Q

 CMOS output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay18kΩ USP-6C

XD6132C10HER-Q

 CMOS output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay144kΩ USP-6C

XD6132C10KER-Q

 CMOS output 1.0V Active Low, Release Delay288kΩ：Detect Delay144kΩ USP-6C

XD6132N10AER-Q

 Nch open drain output 1.0V Active High, Release delay144kΩ：Detect Delay0kΩ USP-6C

XD6132N10BER-Q

 Nch open drain output 1.0V Active High, Release Delay144kΩ：Detect Delay18kΩ USP-6C

XD6132N10CER-Q

 Nch open drain output 1.0V Active High, Release Delay144kΩ：Detect Delay144kΩ USP-6C

XD6132N10DER-Q

 Nch open drain output 1.0V Active High, Release Delay288kΩ：Detect Delay144kΩ USP-6C

XD6132N10EER-Q

 Nch open drain output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay0kΩ USP-6C

XD6132N10FER-Q

 Nch open drain output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay18kΩ USP-6C

XD6132N10HER-Q

 Nch open drain output 1.0V Active Low, Release Delay144kΩ：Detect Delay144kΩ USP-6C

XD6132N10KER-Q

 Nch open drain output 1.0V Active Low, Release Delay288kΩ：Detect Delay144kΩ USP-6C

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